ASTM F 671-1990 硅晶片及其他电子材料的平面长度测量方法
作者:标准资料网
时间:2024-05-29 13:30:51
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【英文标准名称】:TestMethodforMeasuringFlatLengthonWafersofSiliconandOtherElectronicMaterials
【原文标准名称】:硅晶片及其他电子材料的平面长度测量方法
【标准号】:ASTMF671-1990
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1990
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:测量;电子工程;垫圈;长度;材料
【英文主题词】:electronicengineering;washers;materials;length;measurement
【摘要】:
【中国标准分类号】:H80
【国际标准分类号】:29_040_30
【页数】:4P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:硅晶片及其他电子材料的平面长度测量方法
【标准号】:ASTMF671-1990
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1990
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:测量;电子工程;垫圈;长度;材料
【英文主题词】:electronicengineering;washers;materials;length;measurement
【摘要】:
【中国标准分类号】:H80
【国际标准分类号】:29_040_30
【页数】:4P;A4
【正文语种】:英语
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